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系統的核心, Trimos DHM? (數字全息顯微鏡), 源于在生物醫學領域采用的技術，系統本身基于表面結構的物理信息特征分析，采用這種技術用于工業領域表面檢查為Trimos專有。它與其它產品相比較zui大的在于可以測量反射非常大的表面，鏡面拋光后或者很小平面。特別高的測量速度和納米級的測量范圍是它的突出優點。只需要幾豪秒時間就可以獲得一百萬點的尺寸圖像三維數據. 如此高的測量速度使它完全可以忽略因振動引起的測量問題。它內部的測量頭可互換可以使用測頭（接觸測量）。多樣的選擇使它在多種工業領域的加工后表面結構測量都可使用如（所有經加工過的表面），應用領域如汽車和航空工業、表面涂敷、聚合涂層、在光學元件、醫療儀器、微型機電系統、半導體研發和質量控制等。

特點：
◆ 測量速度快
◆ 對振動不敏感
◆ 垂向分辨率到納米級??
◆ 采用激光找正非常容易實現工件定位
◆ 非接觸測量，無損檢測
◆ 高技術的軟件配置
◆ 分析表面形貌和結構
◆ 預先設定測量程序
◆ 二維和三維標準兼容

軟件（附加/選項模塊）：
NanoWare XT : (2D)用于二維輪廓分析的全套軟件
NanoWare XT : (2D)用于二維輪廓分析的全套軟件
NanoWare XTT : (2D and 3D)二維三維輪廓分析的模塊軟件
NanoWare PRO : 二維三維輪廓分析的所有模塊軟件

測量頭：
DHM S1 :用于光亮表面粗糙度測量頭
DHM S2 :中等范圍的表面粗糙度
DIA P1 :有金剛石測頭的測量頭

標準配置如下：
根據要求配置的儀器，不含測量頭
用戶手冊
電腦和觸摸屏
TR Scan 101,無工作臺，軟件NanoWare LT，僅用于DHM S1 & DHM S2測量頭
TR Scan 201,單軸測量工作臺，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測量頭
TR Scan 301,雙軸測量工作臺，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測量頭
TR Scan 102,無工作臺，軟件NanoWare LT，僅用于DHM S1 & DHM S2測量頭
TR Scan 202,單軸測量工作臺，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測量頭
TR Scan 302,雙軸測量工作臺，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測量頭