產(chǎn)品簡介
北京NANOMAP500LS探針式輪廓儀廠家，探針式輪廓儀用來獲得樣品表面垂直分辨率高達0.05nm的三維形態(tài)和形貌，又可以定量地測量表面粗糙度及關鍵尺寸。
公司簡介
億誠恒達科技有限公司，是一家專門代理經(jīng)銷進口科學儀器、測試測量設備的高科技企業(yè)，所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領域。公司本著“誠信、務實、品質(zhì)、服務”的經(jīng)營理念，已經(jīng)為國內(nèi)許多用戶提供了先進的儀器設備，專業(yè)的技術咨詢和完善的售后服務。
公司主要代理產(chǎn)品有：
公司主營：氣體純化器，儲氫材料PCT測試儀，電化學工作站，恒電位儀，多通道電化學工作站，旋轉(zhuǎn)圓盤環(huán)盤電極RDE，石英晶體微天平QCM，掃描探針顯微鏡，原子力顯微鏡AFM，CMP化學機械拋光設備，摩擦磨損試驗機，三維形貌儀，輪廓儀，臺階儀，疲勞試驗機，材料試驗機，扭轉(zhuǎn)彎曲試驗機，扭矩測試儀等。
北京億誠恒達科技有限公司，位于北京海淀中關村核心區(qū)域，是一家專門代理經(jīng)銷進口科學儀器、測試測量設備的高科技企業(yè)，所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領域。公司本著“誠信、務實、品質(zhì)、服務”的經(jīng)營理念，竭誠為國內(nèi)廣大用戶提供先進的儀器設備，專業(yè)的技術咨詢和完善的售后服務。
公司擁有國際貿(mào)易和商務物流管理的專業(yè)人才，可提供代理進出口、代辦免稅手續(xù)、代辦報關、運輸、保險、商檢等服務。也可提供國際貿(mào)易等方面商務咨詢服務。
北京億誠恒達科技有限公司愿與客戶攜手，共創(chuàng)美好未來！
材料試驗機，疲勞試驗機，沖擊試驗機，電化學工作站，恒電位/恒電流儀，石英晶體微天平，三維形貌儀，輪廓儀，原子力顯微鏡（AFM），掃描探針顯微鏡（SPM），摩擦磨損試驗機，瓶蓋扭矩測量儀，軸承扭矩測量儀，高頻疲勞試驗機。
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產(chǎn)品說明
北京NANOMAP500LS探針式輪廓儀廠家
NANOMAP 500LS探針式輪廓儀/三維形貌儀，既有高度和準確度的局部（Local）SPM掃描，又具備大尺度和高測量速度；既可用來獲得樣品表面垂直分辨率高達0.05nm的三維形態(tài)和形貌，又可以定量地測量表面粗糙度及關鍵尺寸，諸如晶粒、膜厚、孔洞深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等，并計算關鍵部位的面積和體積等參數(shù)。樣件無須專門處理，在高速掃描狀態(tài)下測量輪廓范圍可以從1nm 到10mm。該儀器的應用領域覆蓋了薄膜/涂層、光學，工業(yè)軋鋼和鋁、紙、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介質(zhì)和半導體等幾乎所有的材料領域。 NANOMAP 500LS探針式輪廓儀/三維形貌儀技術特點
常規(guī)的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術的結(jié)合。
雙模式操作（針尖掃描和樣品臺掃描），即使在長程測量時也可以得到優(yōu)化的小區(qū)域三維測圖。
針尖掃描采用的壓電陶瓷驅(qū)動掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用別光學參考平臺能使長程掃描范圍到50mm。
北京NANOMAP500LS探針式輪廓儀廠家
在掃描過程中結(jié)合彩色光學照相機可對樣品直接觀察。
針尖掃描采用雙光學傳感器，同時擁有寬闊測量動態(tài)范圍（zui大至500μm）及亞納米級垂直分辨率 （zui小０.１nm ）
軟件設置恒定微力接觸。
簡單的2步關鍵操作，友好的軟件操作界面。
探針式輪廓儀/三維形貌儀應用
北京NANOMAP500LS探針式輪廓儀廠家
三維表面輪廓測量和粗糙度測量，即適用于拋光的光學表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機加工零件。
薄膜和厚膜的臺階高度測量。
劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測量。
空間分析和表面紋理表征。
平面度和曲率測量。
二維薄膜應力測量。
微電子表面分析和MEMS表征。
表面質(zhì)量和缺陷檢測。運用
相比傳統(tǒng)一維點激光測量，的激光輪廓儀可以快速測量整個剖面，而不是幾個有限的測量點，能更、的反映車輪、軌道表面輪廓情況，尤其適合精度及速度要求都很高的在線測量系統(tǒng)。采用新技術的系統(tǒng)已經(jīng)逐漸成為外在線輪廓測量的主流趨勢。
其主要優(yōu)點：
傳感器的觸針由金剛石制成，針尖圓弧半徑為2微米，在觸針的后端鑲有導塊，形成一條相對于工件表面宏觀起伏的測量的基準，使觸針的位移僅相對于傳感器殼體上下運動，所以導塊能起到消除宏觀幾何形狀誤差和減小紋波度對表面粗糙度測量結(jié)果的影響。傳感器以鉸鏈形式和驅(qū)動箱連接，能自由下落，從而保證導塊始終與被測表面接觸。
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