美國進口VMIC反射內存卡GE公司測量和控制解決方案產業部在以傳感器為基礎的測量、檢驗、資產狀態監測、控制和輻射測量解決方案的方面是一個的變革者，解決方案在廣泛的行業里

天津新琇科技發展有限公司成立于2013，主要致力于實時仿真領域，目前交付多臺計算機仿真系統，在航天，航空，航海等專業有廣泛的用戶群，其中實時仿真系統，反射內存卡，GE代理反射內存,PCI5565,PCI-5565,PCIE-5565RC,PCIE-5565PIORC,PMC5565PIORC等有著獨特的優勢

 反射內存卡電子故障注入與診斷

  故障注入是指針對特定的故障模型，有意識的在目標系統中催出故障，加速其錯誤和失效的發生，通過分析系統對所注故障的回應信息，可以驗證其容錯和故障安全等信息。

  對于軍用電子平臺來講，必須具有很高的運行穩定性、健壯性和可維修性。因此在軍用電子系統的設計、研發和測試過程中充分考慮各種異常狀態可能帶來的影響，是系統設計的重要內容。故障注入通過模擬電子設備及其接口可能發生的異常( 包括物理連接失敗、性能參數下降、功能失效、時序錯誤等)，可對電子系統進行更的測試和驗證。

  NI 為電子故障注入與診斷提供了佳的軟硬件綜合平臺，結合基于PXI 總線的故障注入模塊（FIU）、電壓電流激勵源、各種矩陣開關模塊以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空總線接口模塊可模擬軍用電子設備與接口所發生的異常，并且可通過NI 的各種信號調理與采集模塊將目標系統的回應信息進行采集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等軟件為故障注入與診斷提供了的ATE 測試程序開發與測試流程管理解決方案。

應用舉例故障注入綜合測試平臺 器件級的故障注入：通過開放式的程序設計使設備可以強制”拉出”和”灌入”電流，注入的短時間可程序控制板級/ 單元級電氣層故障注入：通過開放式的程序設計使設備可以產生任意頻率的數字時序，可以配合矩陣開關或多路復用開關進行故障注入板級/ 單元級物理鏈路層故障注入：使用矩陣/ 多路復用通用開關，通過開放式的程序設計使設備可以模擬任意通道短路、斷路、信號電阻搭接等故障 同時對于此測試平臺可通過NI TestStand 軟件實現測試管理，且支持ATLAS 和ATML 案例：某研究所基于NI PXI 平臺及相應軟件構建上述故障注入所需的硬件與軟件試驗環境 具體看來，基于PXI 的SMU 模塊可實現電流的”拉出”與”灌入”，并通過NI LabVIEW 編寫程序控制時間到ms 量級。 基于PXI 的高速數字I/O 模塊可以產生任意頻率的數字時序，配合矩陣開關模塊進行電氣層故障注入。基于PXI 的FIU 模塊可以實現任意通道的短路、斷路等故障模擬。NI TestStand 測試管理軟件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等語言編寫的測試用例集成，并支持ATLAS 和ATML 的標準導入，無需編程即可快速而穩定地實現綜測平臺的集成工作。

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