XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的一款高精度高性價比的材料測試平臺。融合矢量網絡分析儀和試夾具于一體，可進行30MHz到110GHz頻率范圍內的微波復介電常數測試。

北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事儀器設備，我們同中國科學院，北京科技大學，清華大學，上海交通大學，北京航空航天大學等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設備，計量檢測設備，科學材料研究設備，3D打印及空間技術的研發和銷售，我們將同國內的科研機構和高等院校進行廣泛的合作，服務于國內和國外廣大客戶，我們將提供優質產品，優質服務，共同開拓進取。

XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀

   諧振腔法是一種重要的材料測量方法，具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發展，諧振腔法將會在材料科學、電子工程、通信技術等領域發揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的一款高精度高性價比的材料測試平臺。融合矢量網絡分析儀和試夾具于一體，可進行30MHz到110GHz頻率范圍內的微波復介電常數測試。該系列產品精度高、接口豐富，在科研實驗中能發揮十分重要的作用。

主要特點：

1、    測試精度高，速度快

2、    頻率范圍: 0.1~110.0GHz

3、    系統配置簡單，易操作，測量軟件簡單易用，自動化程度高

主要技術參數：

1、頻率范圍: 0.1~110.0GHz

2、測試溫度:-50~1750℃

3、電磁參數測試范圍: er'= 1.0~100，tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0，tanou =1.0×103~1.0   

一、諧振腔微擾法測試設備

頻率范圍:0.1~40.0GHz測試溫度:室溫～1750℃復介電常數測試范圍:

cr'= 1.0 ~30.0

tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10

tanou = 0.001 ~1.0常溫測試誤差:

|Asr'/er'\≤1.5%當sr'=2.0 ~30.0

Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02當r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4

Aur'/ur'\≤5.0%

Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4樣品尺寸:

圓棒或方棒狀小樣品材料，直徑:1.0~6.Omm，高度不低于30mm;

(實際尺寸視具體情況而定)

2、高Q腔法測試設備

頻率范圍:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz測試溫度:室溫~1600℃

復介電常數測試范圍:

cr'=l~10

tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測試誤差:

|Acr'/cr'\≤2.0%當sr'=2~10

Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02當sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4

樣品尺寸:

2.0~7.0GHz

圓片材料直徑:150.0mm，厚度:3.0 ~10.Omm

7.0~18.0 GHz

圓片材料直徑:50.0mm，厚度:1.5~3.0mm

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