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PA-Micro PHL應力雙折射測量儀PA-Micro

北京歐屹科技有限公司

會員指數：

企業認證：

價格：電議

所在地：北京

型號：PA-Micro

更新時間：2022-03-01

瀏覽次數：1068

公司地址：北京市昌平區回龍觀西大街115號龍冠大廈3樓

17600738803 王新波(先生)

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產品簡介

PHL應力雙折射測量儀PA-Micro PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特

公司簡介

歐屹科技，是以激光、光電儀器、電子封裝設備為核心業務的專業代理經銷商和服務商，歐屹科技以多年的行業經驗，
為客戶引進國內外先進的激光器、光電器件、光電儀器、光電系統、電子封裝設備等高精尖儀器設備
其中高功率半導體激光器，微光學透鏡，劃片機，
應力雙折射測試儀尤其受到客戶的贊許。
另外，歐屹科技以專業的技術支持和售后服務；豐富國際貿易經驗為廣大用戶提供廣泛的支持，
我們正盡最大努力把歐屹科技建設成為值得您信賴的公司

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產品說明

PHL應力雙折射測量儀PA-Micro主要特點：

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的讀取數據，無遺漏數據點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機。

PHL應力雙折射測量儀PA-Micro應用領域：

通信光纖
晶體
醫學細胞

PHL應力雙折射測量儀PA-Micro技術參數：

項次	項目	具體參數
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重復精度	<1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm (×2，×5，×10，×20，×50)

7	選配鏡頭視野	無

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制